Інтелектуальний аналіз масивів даних скануючої тунельної спектроскопії для систем метал – напівпровідник

Алгоритми обробки масивів даних скануючої зондової мікроскопії/спектроскопії

Обробка і аналіз даних отриманих для поверхонь твердих тіл методом скануючої тунельної спектроскопії є актуальною проблемою, з огляду на розмір відповідних експериментально отриманих масивів даних, та ряд параметрів, які використовуються їх дослідниками інтерпретації даних. Метою роботи є оптимізація конвертації форматів даних у процесі переходу від отримання даних до їх обробки та алгоритмізація обробки експериментальних даних, проектування та розробка програмного забезпечення з метою отримання висновків щодо експериментальних даних.

• Проектування інформаційних систем (КН)
• Управління ІТ-проектами (Інженерія програмного забезпечення) (ІСТ)
• Управління ІТ-проектами (КН)

1. Nenchuk T.M. Ni_xInSe(0001) Metal-Semiconductor Hetero Nano System Study / Galiy P.V., Nenchuk T.M., Ciszewski A., Mazur P., Yarovets’ I.R., Dveriy O.R. // Металлофизика и новейшие технологи, V. 39, issue №7, 2017, p. 995-1004 DOI:10.15407/mfint.39.07.0995.
2. Ненчук T.M. Аналіз спектрів скануючої тунельної спектроскопії для системи метал-напівпровідник InSe(Ni) / Галій П.В., Ненчук Т.М., Мазур П., Ціжевський А., Яровець І.Р. // IV Міжнародна науково-практична конференція “Напівпровідникові матеріали, інформаційні технології та фотовольтаїка”, Кременчук: Кременчуцький національний університет імені Михайла Остроградського, 26-28 травня 2016 р. – С. 139-141.
3. Nenchuk T.M. Micro-, nano- and electron energy structure of cleavage surfaces of NiхInSe hybrid intercalate systems / Galiy P.V., Mazur P., Ciszewski A., Yarovets’ I.R, Nenchuk T.M., Simon Frank, Losovyj Ya.B., Buzhuk Ya.M. // Book of abstracts International research and practice conference ” Nanotechnology and nanomaterials” NANO 2016, 24-27 August 2016, Lviv, Ukraine, p. 314.
4. Ненчук T.M. Дослідження мікро- та наноструктури міжшарових поверхонь сколювання шаруватих кристалів InSe, інтеркальованих нікелем / Галій П.В., Мазур П., Ціжевський А., Яровець І.Р., Ненчук Т.М., Сімон Франк, Бужук Я.М., Фоменко В.Л. // Журнал нано- та електронної фізики, Т. 8, №1, 2016, с. 01012(11cc).
5. Nenchuk T.M. Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Low-Energy Electron Diffraction Investigations of GaTe Layered Crystal Cleavage Surface / Galiy P.V., Nenchuk T.M., Ciszewski A., Mazur P., Zuber S., Yarovets’ I.R. // Металлофизика и новейшие технологи, Т. 37, №6, 2015, с. 789-801.
6. Ненчук Т.М. Структурні дослідження поверхонь сколювання (100) шарува-тих кристалів In4Se3 методом дифракції повільних електронів / Галій П.В., Ло¬зо¬вий Я.Б., Ненчук Т.М., Яровець І.Р. // Укр. фіз. жур¬нал.  2014.  т. 59, № 6. – с. 613-622.
7. Ненчук Т.М. Дослідження топографії та атомної структури поверхонь ско-лювання (100) шаруватих кристалів In4Se3 / Галій П.В., Ненчук Т.М., Яровець І.Р. // Журнал нано- та електронної фізики.  2014.  т. 6, № 2. – с. 02029-1-02029-7.
8. Galiy P. V. Indium induced nanostructures on In4Se3 (100) surface studied by scanning tunneling microscopy / P. V. Galiy, T. M. Nenchuk, A. Ciszewski, P. Mazur, S. Zuber, Ya. M. Buzhuk // Functional materials. – 2013. – V. 20, N 1. – p. 37–43.

Народився 1964 року у Львові.

Закінчив ЛЗСШ №53.

У 1981-1986 навчався на фізичному факультеті ЛДУ імені Івана Франка, який закінчив із відзнакою.

З 1986 працює у ЛДУ імені Івана Франка (тепер ЛНУ імені Івана Франка) на посадах інженера, молодшого наукового, наукового співробітника.

У 1997 році захистив дисертацію на здобуття наукового ступеня кандидата фізико-математичних наук.

З 1999 асистент, а з 2002 року доцент кафедри фізики напівпровідників фізичного факультету, а з 2003 року факультету електроніки. З 2016 року працює доцентом кафедри системного проектування.

Участь у проекті Львівського ІТ кластеру Data Science & Intelligent Systems at LNU

Методичне забезпечення: програми курсів, зокрема, розроблені у співпраці зі спеціалістами Львівського ІТ кластеру, електронні методичні розробки завдань до лабораторних робіт, тестові завдання для контролю знань студентів.

Управління ІТ проектами   4курс ФеІ

Проектування інформаційних систем 3 курс ФеІ

Управління ІТ проектами (інженерія програмного забезпечення) 1 курс ФеС

1-й семестр
2-й семестр