Тестування і характеризація систем (153 Мікро- та наносистемна техніка)
Тип: Нормативний
Кафедра: сенсорної та напівпровідникової електроніки
Навчальний план
| Семестр | Кредити | Звітність |
| 5 | 3.5 | Залік |
Лекції
| Семестр | К-сть годин | Лектор | Група(и) |
| 5 | 32 | Кушлик М. О. | ФеM-31, ФеM-32 |
Лабораторні
| Семестр | К-сть годин | Група | Викладач(і) |
| 5 | 32 | ФеM-31 | Кушлик М. О., Кушлик М. О. |
| ФеM-32 | Кушлик М. О., Кушлик М. О. |