Testing and characterization of systems (153 Micro-nanosystem technology)
Тип: Нормативний
Кафедра: department of sensory and semiconductor electronics
Навчальний план
| Семестр | Кредити | Звітність |
| 5 | 3.5 | Залік |
Лекції
| Семестр | К-сть годин | Лектор | Група(и) |
| 5 | 32 | Kushlyk M. O. | ФеM-31 |
Лабораторні
| Семестр | К-сть годин | Група | Викладач(і) |
| 5 | 32 | ФеM-31 | Kushlyk M. O. |