Фізичний практикум (153 Мікро- та наносистемна техніка )

Тип: Нормативний

Кафедра: оптоелектроніки та інформаційних технологій

Навчальний план

СеместрКредитиЗвітність
33Залік

Лабораторні

СеместрК-сть годинГрупаВикладач(і)
332ФеM-21професор Половинко І. І., професор Половинко І. І.
ФеM-22професор Половинко І. І., професор Половинко І. І.

Опис навчальної дисципліни

Анотація  навчальної   дисципліни:переставлений лабораторний  практикум покликаний  ознайомити студентів з   питаннями, пов’язаними з фундаментальними експериментами в галузі оптики, атомної та ядерної фізики. Виконання запропонованих лабораторних робіт дозволить слухачам глибше вникнути у проблеми, що пов’язані з принципом Гюйгенса, дифракцією Фаунгофера від щілини,дисперсією світла, заломленням і відбиванням на сферичній поверхні, заломленням світла в тонкій лінзі, оптичною силою,різноманітними оптичними пристроями зокрема лупою, мікроскопом і телескопом. Розширюються  поняття поведінки радіоактивних ядер,  та взаємодії іонізуючого випромінювання з речовиною.

Результати навчання:

знати: Формули що описують дисперсійні властивості світла у речовині. Принципи явища інтерференції. Взаємодію двох когерентних хвиль. Принцип Гюйгенса та модель дифракції Фаунгофера від щілини.  Властивості дифракційних решіток. Принцип роботи лазерів неперервної дії, їх спектральні та технічні характеристики.  Природу явища оптичної активності. Особливості двопроменезаломлення в одно- та двовісних анізотропних речовинах. Основні типи аберацій у лінзах та умови при яких вони виникають. Природу появи кілець Ньютона. Будову і властивості джерел променевої енергії. Закони випромінювання абсолютно чорного тіла. Принципи оптичної голографії. Статистичні властивості процесу радіоактивного розпаду. Закони взаємодії радіоактивного випромінювання з речовиною.

повинен вміти:

юстувати гоніометр,вимірювати кути відхилення світла у призмі для різних довжин хвиль та розраховувати значення показників заломлення. Отримувати інтерференційну картину за допомогою плоскопаралельної пластинки, біпризми Френеля  та з використанням схеми Юнга. Визначати, із використанням явища дифракції, ширини вузьких щілин та періодів дифракційних решіток. Визначати спектральні ,енергетичні, кутові та поляризаційні властивості лазерного випромінювання. Вимірювати оптичну активність твердих тіл та розчинів. Визначати параметри аберацій у лінзах та фокусні віддалі різних типів лінз. Вимірювати радіуси кривизни лінз за допомогою кілець Ньютона. Отримувати  фотометричні характеристики джерел випромінювання. Досліджувати залежності спектральних густин спектральної світності нагрітих тіл. Визначати дифракційну ефективність амплітудних і фазових голограм. Користуватись дозиметричними вимірювальними приладами. Визначати коефіцієнти  послаблення гамма-випромінювання у речовині.