Тестування електронних систем (171 Електроніка та комп’ютерні системи)
Тип: Нормативний
Кафедра: сенсорної та напівпровідникової електроніки
Навчальний план
Семестр | Кредити | Звітність |
4 | 4.5 | Залік |
Лекції
Семестр | К-сть годин | Лектор | Група(и) |
4 | 32 | Кушлик М. О. | ФеЛ-21, ФеЛ-22 |
Лабораторні
Семестр | К-сть годин | Група | Викладач(і) |
4 | 32 | ФеЛ-21 | Кушлик М. О., Кушлик М. О. |
ФеЛ-22 | Кушлик М. О., Кушлик М. О. |
Опис навчальної дисципліни
Дисципліна “Тестування електронних систем” охоплює теоретичні основи та практичні аспекти тестування, діагностики й забезпечення працездатності сучасних електронних пристроїв, ознайомлення студентів із методами, засобами та технічними прийомами принципами виявлення й усунення несправностей електронних компонентів і систем. Курс надає студентам знання про сучасні підходи до проектування тестопридатних електронних систем (Design for Testability, DfT), використання стандартів, таких як IEEE 1149.1, та новітніх технологій для забезпечення надійності електронних пристроїв. Практичні завдання спрямовані на формування навичок роботи з технічною документацією, проведення вимірювань і тестувань, аналізу несправностей та розробки рішень для їх усунення.
Рекомендована література
- 1. M.L. Bushnell and V. D. Agrawal, Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits, Boston: Kluwer Academic Publishers . – 2002 . – 690 pages.
- 2. Монтаж радіоелектронних приладів. Спеціальна технологія (навчальний посібник) / Л. В. Крилик, О. О. Селецька. – Вінниця :ВНТУ, 2017. – 75 с.
- 3. Електротехніка, електроніка і мікропроцесорна техніка / Укл.: Г.В.Карандаков, В.І. Кривенко. – Київ, НТУ, 2008. – 230 с.
- 4. Lala, P. K. An Introduction to Logic Circuit Testing. Synthesis: Lectures on Digital Circuits and Systems, 3(1), 2008. 1–100.
- 5. D J Murray-Smith. Modelling and Simulation of Integrated Systems in Engineering: Issues of Methodology, Quality, Testing and Application / Woodhead Publishing; 1st edition. – 2012. – 372 pages.
- 6. Zander, J.; Schieferdecker, I.; Mosterman, P.J. Model-Based Testing for Embedded Systems; CRC Press: Boca Raton, FL, USA, 2011, 688p