Моделювання в електроніці (153 Мікро- та наносистемна техніка)
Тип: Нормативний
Кафедра: сенсорної та напівпровідникової електроніки
Навчальний план
Семестр | Кредити | Звітність |
7 | 3 | Іспит |
Лекції
Семестр | К-сть годин | Лектор | Група(и) |
7 | 16 | Лучечко А. П. | ФеM-41, ФеM-42 |
Лабораторні
Семестр | К-сть годин | Група | Викладач(і) |
7 | 32 | ФеM-41 | Лучечко А. П., Лучечко А. П. |
ФеM-42 | Лучечко А. П., Лучечко А. П. |
Опис навчальної дисципліни
Назва дисципліни: ______МОДЕЛЮВАННЯ В ЕЛЕКТРОНІЦІ___________ _______________ Семестр: ___VII______
Спеціальність (спеціалізація): 153 Мікро- та наносистемна техніка (фізична та біомедична електроніка)
загальна кількість годин – __90____ (кредитів ЄКТС – _3__);
аудиторні години – __48___ (лекції – _16__ , практичні – ___ , семінарські – ___,
лабораторні – _32__ )
Анотація навчальної дисципліни:
Збільшення швидкодії та покращення інших технічно-експлуатаційних параметрів інтегральних мікросхем і напівпровідникових приладів, а також пошук нових матеріалів для їх виготовлення, в даний час, не можливі без використання математичного моделювання фізичних процесів.
Результати навчання:
- знати:
основні поняття предмету, викладені у програмі курсу; принципи побудови математичних моделей фізичних процесів у напівпровідникових структурах; вимоги до постановки основних задач моделювання інтегральних мікросхем та напівпровідникових приладів.
- вміти:
вибрати і обґрунтувати чисельний метод розв’язку задачі; з використанням програмних засобів, розраховувати необхідні характеристики та параметри, що відповідають фізичним процесам в напівпровідникових структурах; проаналізувати точність отриманих результатів; проводити фізичну інтерпретацію результатів.
Форма звітності:________екзамен___________________________________
(екзамен, залік)
Мова вивчення: ____ українська ___________