Електронна мікроскопія
Тип: На вибір студента
Кафедра: фізичної та біомедичної електроніки
Навчальний план
| Семестр | Кредити | Звітність |
| 10 | 8 | Залік |
Лекції
| Семестр | К-сть годин | Лектор | Група(и) |
| 10 | 32 | доцент Пенюх Б. Р. | ФеMм-11 |
Лабораторні
| Семестр | К-сть годин | Група | Викладач(і) |
| 10 | 32 | ФеMм-11 | доцент Пенюх Б. Р., доцент Пенюх Б. Р. |
Опис навчальної дисципліни
Розглядаються питання взаємодії електронів з речовиною; характеристики електронного пучка; будова і принципи роботи лінз; принципи роботи електронних мікроскопів у різних режимах;
принципи формування та обробка зображень, отриманих у електронному мікроскопі; методики препарування зразків для електронно-мікроскопічних досліджень.
Метою викладання навчальної дисципліни є формування у студентів знань та практичних навичок роботи з електронними мікроскопами. Завдання: навчити студентів основ функціонування трансмісійних та скануючих мікроскопів, розуміння вимог до об’єктів, які можуть бути дослідженні в електронних мікроскопах, методик опрацювання та принципів трактування результатів електронно-мікроскопічних досліджень.
Рекомендована література
- 1. Litao Sun, Tao Xu, Ze Zhang. In-Situ Transmission Electron Microscopy / Springer Nature Singapore Pte Ltd., 2023, P.371.
- 2. Stephen J. Pennycook Peter D. Nellist. Scanning Transmission Electron Microscopy Imaging and Analysis / Springer Science+Business Media, 2011, P.764.
- 3. Anwar Ul-Hamid. A Beginners Guide to Scanning Electron Microscopy / Springer Nature Switzerland, 2018, P.402.
- 4. Patrick Echlin. Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis / Springer Science+Business Media, 2009, P.330.
- 5. David Brandon And Wayne D. Kaplan. Microstructural Characterization of Materials 2nd ed./John Wiley & Sons Ltd, The Atrium, Southern Gate, Chichester, 2008, P.536.
- 6. A.J. Garratt-Reed, D.C. Bell. Energy-Dispersive X-ray Analysis in the Electron Microscope/ Microscopy Handbook 49/ – BIOS Scientific Publishers Limited, 2003. – P.163.
- 7. Бойко Б.Т., Шкалето В.І., Хрипунов Г.С., Зайцев Р.В. Фізичне матеріалознавство для мікро- та наноелектроніки: дослідження структури плівок електронографічним методами: навч. посібник. Том 1. –Х.: НТУ «ХПІ», 2014. – 142с.
- 8. Nikodem Tomczak Kuan Eng Johnson Goh. SCANNING PROBE MICROSCOPY /World Scientific Publishing, 2011, P.261.
- 9. Fatima Merchant, Kenneth R. Castleman. Microscope image processing. – Elsevier, 2023. – 498 р