Метрологія (153 Мікро- та наносистемна техніка)
Тип: На вибір ВУЗу
Кафедра: сенсорної та напівпровідникової електроніки
Навчальний план
Семестр | Кредити | Звітність |
8 | 3 | Залік |
Лекції
Семестр | К-сть годин | Лектор | Група(и) |
8 | 16 | доцент Лис Р. М. | ФеM-41, ФеM-42 |
Лабораторні
Семестр | К-сть годин | Група | Викладач(і) |
8 | 16 | ФеM-41 | доцент Лис Р. М., доцент Лис Р. М. |
ФеM-42 | доцент Лис Р. М., доцент Лис Р. М. |
Опис навчальної дисципліни
Назва дисципліни: _МЕТРОЛОГІЯ__
Семестр: VIІІ
Спеціальність (спеціалізація): Мікро- та наносистемна техніка (фізична та біомедична електроніка)
загальна кількість годин – 90 (кредитів ЄКТС – 3.0);
аудиторні години – 32 (лекції – 16 , практичні – ___ , семінарські – ___,
лабораторні – 16 )
Анотація навчальної дисципліни:
“Метрологія” є нормативною дисципліною циклу професійної та практичної підготовки студентів.
Мета: Отримати знання з метрології та метрологічного забезпечення для покращення якості продукції, підвищення ефективності виробництва, використання матеріальних цінностей і енергетичних ресурсів, а також наукових приладних досліджень.
Результати навчання:
- знати: основні положення метрології та метрологічного забезпечення; характеристики основних засобів вимірювальної техніки; методи вимірювань; методи обробки результатів вимірювань.
- вміти: вибрати метод вимірювання; вибрати засоби вимірювальної техніки для виконання технічної чи наукової задачі; провести експеримент; обробити результати спостережень.
Форма звітності:_______________залік__________________________
(екзамен, залік)
Мова вивчення: _українська _
Рекомендована література
- Єрмілова Н.В., Кислиця С.Г. Основи метрології і електричних вимірювань: навч. посібник. Полтава: ПолтНТУ, 2017. – 141 с.
- Коломієць Л.В., Воробієнко П.П., Козаченко М.Т. та ін. Метрологія, стандартизація, сертифікація та управління якістю в системах зв’язку: підручник. Одеса: ВМВ, 2009. – 376 с.
- Поджаренко В.О., Кулаков П.І., Ігнатенко О.Г., Войтович О.П. Основи метрології та вимірювальної техніки: навч. посібник. Вінниця: ВНТУ, 2006. – 151 с.
- Сєдишев Є.С. Метрологія і стандартизація: конспект лекцій. Харків: ХНАМГ, 2008. – 84 с.
- Демків Т.М., Конопельник О.І., Шопа Я.І. Основи теорії похибок фізичних величин: методичні матеріали. Львів: Видавничий центр Л,НУ ім. І. Франка, 2008. – 40 с.
- Величко О.М., Дудич І.І. Основи метрології, стандартизації та контролю якості: навчально-методичний посібник. Ужгород: Видавничий центр УжДУ, 1998. – 295 с.
- Величко О.М., Коломієць Л.В., Гордієнко Т.Б. Метрологія та стандартизація: основні поняття та їхні визначення: навч. посібник. Одеса: ВМВ, 2010. – 376 с.